Áp dụng thiết kế chiếu xạ, không cần lo lắng ô nhiễm đường ánh sáng, dọn dẹp phiền phức và tăng thêm thời gian dọn dẹp. Bộ sưu tập tất cả các ưu điểm của dòng ZSX: hệ thống chân không kép, điều khiển chân không tự động, phân tích mapping/microzone, siêu nhạy cảm với các yếu tố siêu nhẹ và làm sạch lõi tự động, v.v. ZSX PrimusIV cho phép phân tích linh hoạt các mẫu phức tạp. 30μm ống ánh sáng cửa sổ siêu mỏng để đảm bảo độ nhạy phân tích yếu tố nhẹ. Các gói mapping tiên tiến nhất có thể phát hiện tính đồng nhất và bao gồm. ZSX Primus IV được trang bị đầy đủ để đáp ứng những thách thức của phòng thí nghiệm thế kỷ 21

Phạm vi phân tích Features:

Be - U Dấu chân nhỏ Phân tích microzone Ảnh trên Thiết kế cửa sổ siêu mỏng 30μm Mapping: Phân phối nguyên tố He Niêm phong: Phòng mẫu đã được trong môi trường chân không

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV là một máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng liên tục (WDXRF) trên ống có thể xác định nhanh chóng berili (Be) thành các nguyên tố nguyên tử chính và phụ trong uranium (U), loại mẫu - ở mức tối thiểu.

Hệ thống chuyên gia hướng dẫn ZSX mới Phần mềm XRF

Hướng dẫn ZSX cung cấp hỗ trợ cho tất cả các khía cạnh của phép đo XRF và phân tích dữ liệu. Phân tích chính xác chỉ có thể được thực hiện bởi các chuyên gia? Không - đó là quá khứ. Phần mềm ZSX Guidance có chuyên môn XRF tích hợp và chuyên môn lành nghề để xử lý các thiết lập phức tạp. Người vận hành chỉ cần nhập thông tin cơ bản về mẫu, phân tích thành phần và thành phần tiêu chuẩn. Các đường đo với sự chồng chéo tối thiểu, nền tối ưu và các thông số hiệu chỉnh (bao gồm cả chồng chéo đường) có thể được thiết lập tự động với sự trợ giúp của phổ khối.

Hiệu suất XRF cao cấp với quang học đảo ngược cho độ tin cậy

ZSX Primus IV có cấu hình quang học sáng tạo ở trên. Do bảo trì phòng mẫu, không còn phải lo lắng về đường dẫn chùm tia bị ô nhiễm hoặc thời gian chết. Hình học trên các thành phần quang học loại bỏ các vấn đề làm sạch và kéo dài thời gian sử dụng. Với hiệu suất vượt trội và tính linh hoạt để phân tích các mẫu phức tạp nhất, máy quang phổ ZSX Primus IV WDXRF có ống 30 micron, ống cửa sổ đầu cuối mỏng nhất trong ngành cung cấp giới hạn phát hiện các yếu tố nhẹ (Z thấp) tuyệt vời.

Lập bản đồ và phân tích XRF đa điểm

Kết hợp với bao bì lập bản đồ hiện đại để phát hiện tính đồng nhất và bao bọc, ZSX Primus IV có thể thực hiện một nghiên cứu đơn giản và chi tiết về phép đo phổ XRF trên mẫu để cung cấp thông tin chi tiết về phân tích mà các phương pháp phân tích khác không có sẵn. Phân tích đa điểm có sẵn cũng giúp loại bỏ lỗi lấy mẫu trong các vật liệu không đồng đều.

Các thông số cơ bản của SQX sử dụng phần mềm EZ-scan

EZ Scan cho phép người dùng thực hiện phân tích phần tử XRF trên các mẫu không xác định mà không cần thiết lập trước. Tính năng tiết kiệm thời gian chỉ cần một vài cú nhấp chuột và nhập tên mẫu. Kết hợp với phần mềm SQX Basic Parameters, nó có thể cung cấp kết quả XRF chính xác và nhanh nhất. SQX có thể tự động sửa chữa tất cả các hiệu ứng ma trận, bao gồm cả sự chồng chéo đường. SQX cũng có thể điều chỉnh hiệu ứng kích thích thứ cấp của quang điện tử (các yếu tố ánh sáng và siêu nhẹ), bầu không khí khác nhau, tạp chất và kích thước mẫu khác nhau. Sử dụng thư viện phù hợp và chương trình phân tích quét hoàn hảo có thể cải thiện độ chính xác.

Tính năng

• Phân tích nguyên tố từ Be đến U

• Phần mềm hệ thống chuyên gia hướng dẫn ZSX

• Máy phân tích đa kênh kỹ thuật số (D-MCA)

• Giao diện phân tích EZ để đo lường thông thường

• Quang học phía trên đường ống giảm thiểu vấn đề ô nhiễm

• Dấu chân nhỏ và không gian phòng thí nghiệm được sử dụng hạn chế

• Phân tích dấu vết để phân tích mẫu nhỏ đến 500 μm

• Ống 30μ cung cấp hiệu suất nguyên tố nhẹ vượt trội

• Yếu tố địa hình/phân phối chức năng bản đồ

• Con dấu helium có nghĩa là quang học luôn ở trạng thái chân không

•